1. 元器件篩選的概念與目的
*元器件篩選概念：在產品出廠前，有意將環境應力施加到產品上，使產品的潛在缺陷加速發展成早期故障，並加以排除，從而提高產品的可靠性;通過試驗剔除不合格或有早期失效的產品。
*目的：淘汰有缺陷的器件：材料缺陷、工藝缺陷、設備狀況等因素引入；根據使用要求，篩去不符合的器件：壽命、使用環境，如溫度、輻射、振動等
2. 環境應力篩選(ESS)—應用及效益
元器件篩選是提高電子元器件使用可靠性的有效手段。元器件經過篩選可以發現並剔除在製造、工藝、材料方面的缺陷和隱患。元器件篩選對空對空導彈這樣在飛行任務期間沒有可能維修、可靠性指標要求又很高的產品尤為重要。
3. 篩選的考慮與條件:
a. 篩選的原則與難點
原則：既要剔除不合格的產品、又不能將好的產品弄壞
難點：篩選時的方法、應力大小和時間
b. 篩選的種類
一次篩選（篩選）、二次篩選（目的：篩選應力不夠、針對性差、檢驗）
器件篩選、電路板篩選設備級篩選
c. 篩選應力
溫度迴圈(75%～ 85%)
隨機振動迴圈(15%～ 25%)，兩者綜合：90%
4. 環境應力篩選(ESS)—機理及基本方法
5.元器件篩選方法分類
1)非破壞性試驗：對好的器件無損傷
2)破壞性試驗；試驗後器件損壞，不能使用
a.非破壞性試驗項目（GJB597、GJB33）
內/外部目檢（封帽前）：封裝前後目視檢查有無問題；
老練篩選：根據失效率特徵（浴盆曲線），使器件在一定的溫度下工作一段時間；（時間和溫度）
溫度迴圈：高低迴圈環境下放置一段時間
檢漏：密封性檢查，氦質譜細檢、氟油初檢
。。。。
b.破壞性試驗
開帽目檢：打開封裝目視檢查
晶片剪切強度試驗：
變頻振動試驗：變頻振動迴圈環境下放置一段時間
6. 環境應力篩選(ESS)—應注意的事項
l 制定產品的ESS大綱，並嚴格執行；
l 不必準確類比產品真實的環境條件；
l 不應改變產品的失效機理；
l 篩選可以提高批產品的可靠性水準，但不能提高產品的固有可靠性，只有改進設計、工藝等才能提高後者；
l 它不是可靠性鑒定、驗收試驗，但經過篩選的產品有利於鑒定和驗收試驗的順利進行；
l 對關鍵產品要做到三個100%（元器件、電路板、整機）的ESS。破壞性試驗；試驗後器件損壞，不能使用
7. 半導體元器件失效規律
老煉篩選的重要依據是失效規律。半導體失效規律從來都認為是遵循浴盆曲線。但近十餘年來國內外都對其有不同看法。下麵介紹浴盆曲線和其他有關論點。
1) 浴盆曲線簡介
a. 基本論點
浴盆曲線因失效率隨工作時間的變化曲線似浴盆而得名。這變化曲線可分為三段，如圖所示：
第一段稱為早期失效期。失效率較高，但隨時間很快下降。失效原因被認為是設計製造中的缺陷造成。
第二段稱偶然失效期。失效率最低，且基本上不隨時間而變化。這是產品最佳工作時期，失效原因被認為是各種隨機因素造成。
第三段稱為衰老期，或損耗期。失效率顯著上升，失效原因被認為是老化、磨損等原因。
b. 根據浴盆曲線理論制訂篩選條件
⑴ 求拐點B：老化到B點是最佳篩選點，使用時（B點以後）失效率最低，且剩留的使用時間（BC段）最長。
⑵ 如老煉時間較長（過B點較多），則將會縮短使用時間，這顯然是不合適的。
c. 浴盆曲線與實際的矛盾之處
⑴ 拐點找不到。失效率總隨時間下降，只是速率不同而已。
⑵ 三個不同階段的失效機理雷同。例如電遷移失效在不同使用時間都有可能出現，其他失效機理亦然。
⑶ 從國內外文獻中均未見到有說服力的半導體器件進入衰老期的例子。
⑷ 浴盆曲線理論沒有強調設計、生產對可靠性的影響。
由於浴盆曲線理論與事實矛盾，應用該理論在制訂篩選條件時遇到很大阻力。當要採用較長時間的老化（如240h或更長時間），根據浴盆曲線理論必然提出：這樣做會縮短使用壽命。這樣就無法制訂出正確的篩選規範。
2) 新失效率曲線簡介
…….
8. 總結
電子元器件篩選作為提高元器件使用可靠性的手段，發揮著重要和特殊的作用，在目前和今後的一段時期內將繼續保留，它的作用已被多數整機生產廠所認可。隨著電子行業的發展，我們應該不斷研究新的電子元器件的篩選方法，為元器件使用的可靠性提供重要保障。